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產品名稱:Thick680鍍層測厚儀

產品型號:X熒光測厚儀

更新時間:2024-11-28

產品特點:Thick680鍍層測厚儀(X熒光測厚儀)
是根據多年的貴金屬檢測技術和經驗,Thick 680鍍層測厚儀以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要,人性化的設計,Thick 680鍍層測厚儀使測試工作更加輕松完成

X熒光測厚儀Thick680鍍層測厚儀的詳細資料:


Thick680鍍層測厚儀(X熒光測厚儀)


Thick680鍍層測厚儀是根據多年的貴金屬檢測技術和經驗,Thick 680鍍層測厚儀以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要,人性化的設計,Thick 680鍍層測厚儀使測試工作更加輕松完成

Thick 680鍍層測厚儀性能特點

專業貴金屬檢測
內置信噪比增強器,可有效提高儀器信號處理能力25倍以上
智能貴金屬軟件,與儀器相得益彰
任意多個可選擇的分析和識別模型
多變量非線性回收程序
Thick 680鍍層測厚儀技術指標
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線管:管電壓50KV,管電流1mA
可測元素:Ti~U
檢測器:正比計數管
樣品觀察:CCD攝像頭
測定軟件:薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm
Thick 680鍍層測厚儀標準配置
X射線管,正比記數盒,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。
Thick 680鍍層測厚儀應用領域
大型線路板,大型板材,鍍層厚度測試,快速測定:660mm縱深;
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測;主要用于貴金屬加工和首飾加工行業

X熒光測厚儀EDX680技術指標
元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。
測量對象:固體、液體、粉末
分析檢出限可達:1ppm。
分析含量一般為:1ppm到99.9%。
多次測量重復性可達:0.1%。
長期工作穩定性為:0.1%。
EDX680鍍層測厚儀標準配置
單樣品腔。
激光定位裝置。
正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。

硬件
 主機壹臺,含下列主要部件:
 (1) X光管(2) 正比計數器
 (3) 放大電路(4) 高清晰攝像頭
 (5) 高壓系統(6) 單樣品腔
軟件
 X熒光光譜儀厚度分析軟件V1.0;計算機、打印機各一臺
 計算機(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(佳能,彩色噴墨打印機)
資料
 儀器使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。
 標準附件準直孔:Ф1.0mm

EDX680鍍層測厚儀工作環境要求

環境溫度要求:15℃-30℃
環境相對濕度:<70%
工作電源:交流220±5V(建議配置交流凈化穩壓電源)
周圍不能有強電磁干擾。
EDX680鍍層測厚儀技術指標
分析元素范圍:K-U
測量精度:0.1μm
高壓:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
測量時間:60s-300s
計數率:1300-8000cps


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